弊社は2018年1月17日(水)~19日(金)に開催されます『ネプコンジャパン2018』に出展致します。

当日は、弊社の提供するLSIテスト開発技術のご紹介をさせていただきます。

・LSIテスターのテストプログラム開発
・LSIテスターのテスト基板(パフォーマンスボード、プローブカード)設計・製造・実装
・LSIテスターのテスト基板上に搭載し、LSIテスト機能向上を図るモジュール『BOST』の紹介

ご来場の際には弊社ブースへお立ち寄りいただきますよう心よりお待ち申し上げております。

【会期】

平成30年1月17日(水)~1月19日(金)3日間

【開場時間】

1月17日(水)10:00~18:00
1月18日(木)10:00~18:00
1月19日(金)10:00~17:00

【会場】

東京ビッグサイト http://www.bigsight.jp/
東京都江東区有明3-11-1 東1ホール

【ブース番号】

E12-16 大分県LSIクラスター形成推進会議内

【リンク】

ネプコン ジャパン2018 http://www.nepcon.jp/