弊社は2018年1月17日(水)～19日(金)に開催されます『ネプコンジャパン2018』に出展致します。
当日は、弊社の提供するＬＳＩテスト開発技術のご紹介をさせていただきます。
・ＬＳＩテスターのテストプログラム開発
・ＬＳＩテスターのテスト基板（パフォーマンスボード、プローブカード）設計・製造・実装
・ＬＳＩテスターのテスト基板上に搭載し、ＬＳＩテスト機能向上を図るモジュール『ＢＯＳＴ』の紹介
ご来場の際には弊社ブースへお立ち寄りいただきますよう心よりお待ち申し上げております。
【会期】
平成30年1月17日(水)～1月19日(金)3日間
【開場時間】
1月17日（水）10:00～18:00
1月18日（木）10:00～18:00
1月19日（金）10:00～17:00
【会場】
東京ビッグサイト http://www.bigsight.jp/
東京都江東区有明3-11-1 東１ホール
【ブース番号】
E12-16 大分県ＬＳＩクラスター形成推進会議内
【リンク】
ネプコン ジャパン2018 http://www.nepcon.jp/
